[发明专利]一种负压光束控制系统光轴标校方法有效
| 申请号： | 202011236508.3 | 申请日： | 2020-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN112504633B | 公开（公告）日： | 2022-08-23 |
| 发明（设计）人： | 谭毅;张庆鹏;任戈;张玥婷;梁文科;史建亮;王继红;孙小响 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01M11/00;G02B27/34;G02B27/62 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 杨学明 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种负压光束控制系统光轴标校方法，其为利用电调镜对负压光束控制系统光轴进行分步标校的方法，该方法分为两个部分，首先常压状态下对光束控制系统进行光轴标校，使系统光轴与系统机械轴重合，并记录光束控制系统各探测器参数；当光传输通道形成负压后，利用电调镜分别对光路水平轴及垂直轴进行调节，根据常压状态下的光路状态，恢复光轴。该方法有效解决了负压光束控制系统光传输通道形成负压后不能开启并加装传统检测工装检测及调节光路的问题，降低了通道密封状态下光路调节复杂程度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 压光 控制系统 光轴 校方 | ||
【主权项】：
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