[发明专利]一种探测设备荧光泄漏量检测装置及方法在审
| 申请号： | 202011240377.6 | 申请日： | 2020-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN114465660A | 公开（公告）日： | 2022-05-10 |
| 发明（设计）人： | 李东东;赵梅生;蒋伟;蒋连军;唐世彪 | 申请（专利权）人： | 科大国盾量子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079;H04B10/70;G01J11/00 |
| 代理公司： | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人： | 郑浩 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市高*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种探测设备荧光泄漏量检测装置及方法，涉及量子保密通信领域，解决探测设备辐射荧光光子测量过程复杂、精度低问题；包括时间同步单元、可调脉冲光源、超导单光子探测单元、高精度TDC、数据处理单元、数据展示与输出单元、同步信号接口、被测探测设备光接口；时间同步单元与同步信号接口、可调脉冲光源以及高精度TDC连接，可调脉冲光源与被测探测设备光接口连接，超导单光子探测单元与被测探测设备光接口连接，超导单光子探测单元、高精度TDC、数据处理单元以及数据展示与输出单元连接；超导单光子探测单元测量荧光光子，无门控信号，无复杂延时对准，简化测量过程；可调脉冲光源触发被测探测设备，获取很高的荧光光子数量，提高信噪比和测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 探测 设备 荧光 泄漏 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于科大国盾量子技术股份有限公司，未经科大国盾量子技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011240377.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
