[发明专利]一种借助γ谱仪快速判定样品中放射性污染等级的方法有效

专利信息
申请号: 202011240522.0 申请日: 2020-11-09
公开(公告)号: CN112596091B 公开(公告)日: 2023-10-20
发明(设计)人: 朱晨晨;寇子琦;李绪平;秦川;李亚丽;刘雪娇;蔡国生;尹国强;辛桂利 申请(专利权)人: 中核四0四有限公司
主分类号: G01T1/167 分类号: G01T1/167
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 吕岩甲
地址: 732850 *** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明属于放射性检测技术领域,具体涉及一种借助γ谱仪快速判定样品中放射性污染等级的方法。对大批量的被测对象进行预处理,将被测对象进行整形处理,形成密度及结构尺寸相对固定的模型;设定γ谱仪的核素库;获取核素库关注核素特征能量峰的前后道址;结合试验确定被测对象不同污染等级限值处的特征能量峰净计数率数值大小,以此作为等级判定的依据;结合特征峰率内净计数率和特征峰道址区间的曲线拟合双重方式快速测量和判定对应特征峰γ核素的污染等级水平。本发明进一步的提升大批量放射性废物等级分类的准确性和有效性。
搜索关键词: 一种 借助 快速 判定 样品 放射性 污染 等级 方法
【主权项】:
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