[发明专利]用于评价电子元器件耐腐蚀能力的电路板装置及测试方法在审

专利信息
申请号: 202011241105.8 申请日: 2020-11-09
公开(公告)号: CN112362565A 公开(公告)日: 2021-02-12
发明(设计)人: 朱蒙;李明;贾润川;陈宇;李刚 申请(专利权)人: 中国航空综合技术研究所
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00
代理公司: 北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙) 11474 代理人: 韩燕
地址: 100028 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种用于评价电子元器件耐腐蚀能力的电路板装置,其包括电路功能板、小机盒和机箱,机箱内部插有多个小机盒,分别安装有不同芯片的电路功能板,电路功能板包括存储器、电平转换电路、微处理器、通信电路、第一采集电路和第二采集电路,第一采集电路和第二采集电路采集得到的测试指标经微处理器和电平转换电路存储至存储器中,再由上位机经通信电路、微处理器和电平转换电路从存储器中读取,并提供了一种适用于此装置的环境适应性水平评价方法。本发明集成不同元器件于同一块电路功能板上,借助多块不同芯片的电路功能板同时测试,以评价不同电子元器件的环境适应性水平,通用性强且效果明显。
搜索关键词: 用于 评价 电子元器件 腐蚀 能力 电路板 装置 测试 方法
【主权项】:
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