[发明专利]一种多接头的真空检测装置和薄膜规真空度检测方法在审

专利信息
申请号: 202011241981.0 申请日: 2020-11-09
公开(公告)号: CN112556921A 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: 郭远军;何斌;侯少毅;黎天韵;方威;卫红 申请(专利权)人: 季华实验室
主分类号: G01L21/00 分类号: G01L21/00;G01M3/34
代理公司: 佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙) 44377 代理人: 陈志超;唐敏珊
地址: 528200 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种多接头的真空检测装置和薄膜规真空度检测方法,可通过多个接头同时连接多个待测薄膜规进行检测,检测时,若标准真空测量仪器的测得值没变化表示所有薄膜规均合格,若有变化表示其中至少一个薄膜规不合格,从而可通过对半排查的方式确定不合格薄膜规;与现有技术中只能逐个检测的方式相比,检测效率更高,操作更方便,且该多接头的真空检测装置的结构简单、成本低廉。
搜索关键词: 一种 接头 真空 检测 装置 薄膜 方法
【主权项】:
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