[发明专利]一种基于高品质算法的贝伦格完全匹配层仿真方法有效

专利信息
申请号: 202011243286.8 申请日: 2020-11-10
公开(公告)号: CN112307639B 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 黎强;刘大刚;刘腊群;王辉辉 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F111/06
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 陈一鑫
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于高品质算法的贝伦格完全匹配层仿真方法,涉及计算机模拟仿真技术领域。本发明基于高品质算法结合贝伦格完全匹配层,与之前基于中心差分FDTD算法的贝伦格完全匹配层吸收模块相比,考虑了相对论水平情况下的宏粒子,在离散公式中通过相对论效应的洛伦兹理论引入了宏粒子的电流密度,不仅满足宏粒子在相对论水平的情况下计算精度,而且还能适用于高品质算法在吸收边界模块里的模拟研究,并且解决了高品质算法模拟过程中,当粒子进入基于中心差分FDTD算法的贝伦格完全匹配层模块时场累积发散的问题,保证模拟的准确性。
搜索关键词: 一种 基于 品质 算法 贝伦格 完全 匹配 仿真 方法
【主权项】:
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