[发明专利]光线跟踪系统中的多精度水平相交测试有效
| 申请号： | 202011245141.1 | 申请日： | 2020-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN112907717B | 公开（公告）日： | 2023-08-25 |
| 发明（设计）人： | 格雷戈里·克拉克;史蒂文·克罗塞特;卢克·彼得森;纳赛尔·赛德加提;阿里·拉巴尼 | 申请（专利权）人： | 畅想科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T15/06 | 分类号： | G06T15/06;G06T7/00;G06T7/62;G06F30/392 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 杨佳婧 |
| 地址： | 英国赫*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开涉及光线跟踪系统中的多精度水平相交测试。一种光线跟踪系统，包括：测试器模块，用于测试光线与体积的相交，该测试器模块被配置为接收待测试与体积的相交的一个或多个光线的分组，其中该测试器模块包括：第一组一个或多个测试器，其被配置为以第一精度水平执行相交测试以提供相交测试结果，其中对于来自第一组一个或多个测试器的第一类型的相交测试结果，不需要以大于第一精度水平的第二精度水平重新执行相交测试，并且对于来自第一组一个或多个测试器的第二类型的相交测试结果，要以第二精度水平重新执行相交测试；以及第二组一个或多个测试器，其被配置为以第二精度水平执行相交测试。 | ||
| 搜索关键词： | 光线 跟踪 系统 中的 精度 水平 相交 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于畅想科技有限公司，未经畅想科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011245141.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：建筑工地安全状态检测系统
- 下一篇：光敏树脂组合物和由其制备的绝缘膜
