[发明专利]基于高光谱图像的光学多孔径成像系统平移误差测量方法

摘要

本发明公开了一种基于高光谱图像的光学多孔径成像系统平移误差测量方法，其包括以下步骤：通过光学多孔径成像系统中的高光谱成像设备获得被观测目标或景物的高光谱图像。再通过计算机将上述的高光谱图像进行如下处理：计算高光谱图像中不同波段图像的图像评价值，并建立该评价值和波段图像对应波长的数组；再通过将上述得到的图像评价值列表数组，计算出波长和图像评价值的变化曲线关系，推导出所对应的平移误差。使用上述过程便可实现通过观测扩展景物或目标完成光学多孔径成像系统的平移误差测量。