[发明专利]存储校验方法、装置、计算芯片、计算机设备及存储介质在审
| 申请号： | 202011249498.7 | 申请日： | 2020-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN112395129A | 公开（公告）日： | 2021-02-23 |
| 发明（设计）人： | 沈杨书;何伟;祝夭龙;华宝洪 | 申请（专利权）人： | 北京灵汐科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10;G06F11/22;G11C29/42 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 100080 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种存储校验方法、装置、计算芯片、计算机设备及存储介质。存储校验方法包括：将目标样本序列写入至芯片内待测存储器中的目标存储区域内；从目标存储区域内读出待测序列并采用目标压缩映射方式对待测序列进行压缩映射，得到待测压缩序列，根据所述待测压缩序列，对所述待测存储器的目标存储区域进行存储校验。本发明实施例的技术方案可以大大减少存储验证过程中的计算耗时，加快了整体存储验证过程的验证速度以及比对验证的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 校验 方法 装置 计算 芯片 计算机 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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