[发明专利]半导体存储装置以及在半导体装置中执行验证动作的方法在审
| 申请号： | 202011252853.6 | 申请日： | 2016-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN112365914A | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 鎌田义彦;出口阳子;児玉择洋;小林司;酒向万里生;柳平康辅 | 申请（专利权）人： | 东芝存储器株式会社 |
| 主分类号： | G11C16/10 | 分类号： | G11C16/10;G11C16/04;G11C16/08;G11C16/26;G11C16/34 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 杨林勳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的实施方式提供一种能够提高可靠性的半导体存储装置以及在半导体装置中执行验证动作的方法。实施方式的半导体存储装置包括第1存储单元(MT)、连接于第1存储单元的第1位线(BL)、及连接于第1位线(BL)的第1读出放大器(SAU)。第1读出放大器(SAU)包含：第1节点(SEN)，根据第1存储单元(MT)的数据向第1位线(BL)传输电荷；第1电容元件(27)，连接于第1节点(SEN)；及第1静态锁存电路(SCU)，连接于第1节点(SEN)，保存第1节点的数据。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 存储 装置 以及 执行 验证 动作 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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