[发明专利]一种超大尺寸高精度二维平面测量设备在审
| 申请号： | 202011255974.6 | 申请日： | 2020-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN112254655A | 公开（公告）日： | 2021-01-22 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 北京平恒智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01B11/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区经*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及二维测量技术，特别涉及一种超大尺寸二维平面的高精度测量设备。一种超大尺寸高精度二维平面测量设备，包括：把超大尺寸产品的测量点分布到不同的机械移动可达到的n个拍摄点构成的测量区域；由大范围的机械移动定位n个机械原点（基于光栅尺与伺服电机系统结合以实现机械的高精度定位）；在n个机械原点进行拍摄采图，基于预先标定的系数建立图像坐标系Qn；图像中的测量点由图像算法自动找到（如边缘提取，圆中心点，椭圆中心点，矩形中心点，弧度中心点等）；利用图像坐标系的平移换算得到Qn坐标系内所有测量点的世界坐标；建立所有测量点的对应计算关系得到实际测量尺寸；定义好所有测量尺寸后保存测量任务；基于移动总路程和移动顺序，在全局范围内进行坐标点的优化；最后实现自动测量并计算测量结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超大 尺寸 高精度 二维 平面 测量 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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