[发明专利]一种芯片的可测试性架构在审
| 申请号： | 202011271586.7 | 申请日： | 2020-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN112269703A | 公开（公告）日： | 2021-01-26 |
| 发明（设计）人： | 张陈兰;黄平;何梓明;杨洋;陈宏 | 申请（专利权）人： | 无锡华大国奇科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G01R31/28 |
| 代理公司： | 杭州裕阳联合专利代理有限公司 33289 | 代理人： | 田金霞 |
| 地址： | 214100 江苏省无锡市滨*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种芯片的可测试性架构，涉及集成电路技术领域。本发明所提供的可测试性架构包括测试逻辑模块和功能逻辑模块，所述测试逻辑模块包括独立测试单元和混合测试单元，所述独立测试单元和所述功能逻辑模块相互分离；所述可测试性架构具有功能模式和测试模式，在所述功能模式下，所述独立测试单元的供电被断开；在测试模式下，所述独立测试单元、所述混合测试单元、所述功能逻辑模块的供电处于接通状态。本发明在使用时钟门控降低可测试设计芯片动态功耗的基础上，通过多电源域的方法，对测试逻辑模块断电，达到大幅度减少静态功耗的目的，使得芯片的工作时的总体功耗更低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 架构 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡华大国奇科技有限公司，未经无锡华大国奇科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011271586.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：水稻白叶枯病抗病基因Xa7及其应用
- 下一篇：晶体研磨机
