[发明专利]一种基于外差探测体制的无针孔扫描式共焦显微镜有效
| 申请号： | 202011277508.8 | 申请日： | 2020-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN112505908B | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 董洪舟 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G02B21/00 | 分类号： | G02B21/00;G01N21/17;G01B11/24 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人： | 陈一鑫 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 该发明公开了一种基于外差探测体制的无针孔扫描式共焦显微镜，属于显微成像领域，特别是激光共焦显微成像领域。本发明的目的是针对背景技术的不足，通过理论分析指出，外差探测体制共焦显微技术中，在无需共轭针孔和针孔前聚焦透镜的情况下，系统的分辨率和直接探测体制共焦显微系统的分辨率相同。基于这一理论省略了共轭针孔和针孔前聚焦透镜，从而消除了现有技术中针孔对共焦显微技术的限制，进一步促进了共焦显微技术的发展。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 外差 探测 体制 针孔 扫描 式共焦 显微镜 | ||
【主权项】：
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