[发明专利]一种基于中子密度孔隙度差的储层评价方法在审
申请号: | 202011278613.3 | 申请日: | 2020-11-16 |
公开(公告)号: | CN112346147A | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | 韩锐羿;王祝文;齐兴华;崔裔瞳 | 申请(专利权)人: | 吉林大学 |
主分类号: | G01V11/00 | 分类号: | G01V11/00 |
代理公司: | 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 | 代理人: | 王立文 |
地址: | 130012 吉林省长春市*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: |
本发明涉及一种基于中子密度孔隙度差的储层评价方法,通过处理测井数据得到电阻率曲线、补偿中子孔隙度曲线及补偿密度孔隙度曲线,获取目标储层的电阻率、中子孔隙度、密度孔隙度值,计算得到视地层水电阻率数值,用中子孔隙度与密度孔隙度之差表征泥质含量,并将其与表征地层含油特性的视地层水电阻率R |
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搜索关键词: | 一种 基于 中子 密度 孔隙 评价 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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