[发明专利]一种平插式的电子探头及探测方法在审

专利信息
申请号: 202011281334.2 申请日: 2020-11-16
公开(公告)号: CN112378937A 公开(公告)日: 2021-02-19
发明(设计)人: 黄天林;黄小愉;吴桂林 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G01N23/203 分类号: G01N23/203;G01N23/205;G01N23/20058;G01N23/20025
代理公司: 成都东恒知盛知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 51304 代理人: 何健雄;廖祥文
地址: 400044 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种平插式的电子探头,涉及电子显微成像技术、金属材料晶体学表征技术领域,使其具有更高的空间分辨率,同时支持样品的大范围移动,以及能够直接获取背散射电子图像;提高大尺寸样品的适用性、以及与ECCI技术联合使用的便利性,具体方案为:包括电子枪、传输通道、样品室、信号读取装置和信号接收装置,电子枪用于发射电子束,电子束通过传输通道进入至样品室,样品室内设有样品台,样品台用于放置样品,电子束照射到样品并进行背散射,信号读取装置用于接收经样品台背散射的电子束,信号读取装置为CCD相机,CCD相机与信号接收装置数据连接。本发明提供的一种平插式的电子探头空间分辨率高,直插式的EBSD探头工作距离更小。
搜索关键词: 一种 平插式 电子 探头 探测 方法
【主权项】:
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