[发明专利]一种基于放电的二次电子发射系数测量装置及方法有效
| 申请号： | 202011287205.4 | 申请日： | 2020-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN112630288B | 公开（公告）日： | 2021-10-12 |
| 发明（设计）人： | 王春生;孙含笑;薛晨博 | 申请（专利权）人： | 燕山大学 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62;G01N27/92 |
| 代理公司： | 石家庄众志华清知识产权事务所(特殊普通合伙) 13123 | 代理人： | 张建 |
| 地址： | 066004 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于放电的二次电子发射系数测量装置及方法，该装置包括放电箱内设置两个放电腔，分别为上放电腔和下放电腔，上放电腔包括上放电板，上放电板与放电箱上内侧壁构成上放电腔，下放电腔包括下放电板，下放电板与放电箱下内侧壁构成下放电腔；该测量方法利用利用汤生自持放电条件公式结合放电平衡时上下放电板长度求得电子发射系数，装置制作简单，测量方法可肉眼观测，方便检测与验证。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 放电 二次电子 发射 系数 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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