[发明专利]一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202011298889.8 | 申请日： | 2020-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN112415365B | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 何骁伟;杨国文;吴义桂;季宿儒;张清华 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例公开一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及集成电路技术领域，为提高测试效率而发明。所述数据读出方法包括：获取晶圆验收测试中目标晶圆的抽测信息，所述抽测信息包括所述目标晶圆中被选择接受晶圆验收测试的至少一个被抽测芯片的芯片标识信息；在所述晶圆验收测试之后的任一量产测试中，根据所述抽测信息确定是否对所述目标晶圆中的各待测芯片进行所述量产测试之外的附加测试。本申请适用于测试芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于海光信息技术股份有限公司，未经海光信息技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011298889.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
