[发明专利]半导体装置封装及其制造方法与治具在审

专利信息
申请号: 202011300792.6 申请日: 2020-11-19
公开(公告)号: CN114551366A 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 黄炳源;陈馨恩 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L25/16;H01L21/56;H01L21/67;F16K15/02
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 蕭輔寬
地址: 中国台湾高雄市楠梓*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 本揭露提供了一种半导体装置封装及其制造方法与治具。所述半导体装置封装包含一基板,所述基板具有一第一表面、一第二表面及由所述第一表面延伸至所述第二表面的一孔洞;一第一电子组件,设置于所述基板的所述第二表面上且覆盖所述孔洞;以及一第一封装层,包覆所述第一电子组件,其中所述第一封装层具有一延伸部,所述延伸部填充所述孔洞的一部份。一基板,所述基板具有一第一表面、一第二表面及由所述第一表面延伸至所述第二表面的一孔洞;一第一电子组件,设置于所述基板的所述第二表面上且覆盖所述孔洞;以及一第一封装层,包覆所述第一电子组件,其中所述第一封装层具有一延伸部,所述延伸部填充所述孔洞的一部份。另外,本揭露亦提供一种制造所述半导体装置封装的方法及治具。
搜索关键词: 半导体 装置 封装 及其 制造 方法
【主权项】:
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