[发明专利]离散激光测量系统光轴外化方法和集成调试方法有效
| 申请号： | 202011301680.2 | 申请日： | 2020-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN112433385B | 公开（公告）日： | 2021-10-15 |
| 发明（设计）人： | 达争尚;郑小霞;李红光;高立民;孙策 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G02B27/62 | 分类号： | G02B27/62;G02B27/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王凯敏 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 为了使离散激光测量系统的调试集成过程大大简化，缩短集成调试时间，本发明提供了一种离散激光测量系统光轴外化方法和集成调试方法。本发明将离散激光测量系统的光轴外化标识，为系统中的众多光学元件提供了“可见”的、统一的光轴基准，将光学元件通过孔位安装即可实现基本就位，并且离散光学元件之间的光轴没有耦合影响，能够并行同时作业，从而使得离散激光测量系统集成调试过程大大简化，缩短了集成调试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 离散 激光 测量 系统 光轴 外化 方法 集成 调试 | ||
【主权项】：
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