[发明专利]一种基于双层贵金属微纳结构的电场探测装置在审
| 申请号： | 202011305855.7 | 申请日： | 2020-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN112415275A | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 彭彦莉 |
| 主分类号： | G01R29/00 | 分类号： | G01R29/00;G01R29/08;B81B7/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 726206 陕西省商洛*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于双层贵金属微纳结构的电场探测装置，基底层的表面设有凹坑，加热部置于凹坑内，加热部的表面与基底层的表面齐平，第一贵金属微纳结构层固定在加热部上，有机共轭聚合物材料部置于第一贵金属微纳结构层和基底层上，第二贵金属微纳结构层置于第一贵金属微纳结构层顶部的有机共轭聚合物材料部表面上，第一施力部和第二施力部分别置于基底层上加热部的两侧，第一施力部和第二施力部分别固定连接在有机共轭聚合物材料部的两端，第一贵金属微纳结构层与第二贵金属微纳结构层构成手性复合结构。本发明具有电场探测灵敏度高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 双层 贵金属 结构 电场 探测 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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