[发明专利]电子部件处理装置、电子部件测试装置及插座在审
| 申请号： | 202011306079.2 | 申请日： | 2020-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN113030589A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 汐田夏基;菊池有朋 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R29/10;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人： | 龚敏;王刚 |
| 地址： | 日本国东京都千*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够高精度地实施具有天线的DUT的OTA测试的电子部件处理装置、电子部件测试装置及插座。电子部件处理装置具备：恒温槽；使DUT移动并将其按压于插座的处理器；与恒温槽相邻配置的电波暗室；配置于电波暗室的内部的测试天线；和能够使从DUT的设备天线或测试天线辐射的电波透过的窗构件，恒温槽具备形成于该恒温槽的壁面的开口，电波暗室具备配置于该电波暗室的内壁的电波吸收件、和朝向测试天线的电波的收发方向开口的开口，恒温槽和电波暗室以开口与开口对置的方式连接，窗构件封闭开口。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 部件 处理 装置 测试 插座 | ||
【主权项】：
暂无信息
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