[发明专利]SDIO接口的测试方法及装置、存储介质、终端有效
| 申请号： | 202011314892.4 | 申请日： | 2020-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN112256514B | 公开（公告）日： | 2022-09-16 |
| 发明（设计）人： | 陈文超 | 申请（专利权）人： | 厦门紫光展锐科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张振军 |
| 地址： | 361015 福建省厦门*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 一种SDIO接口的测试方法及装置、存储介质、终端，SDIO接口测试方法包括：对SDIO接口进行初始化；至少按照多个不同延时对采样时钟信号进行调整；按照多个调整后的时钟信号对所述SDIO接口的输入输出数据进行采样；将采样到的数据与预设数据进行比较，并输出比较结果。本发明技术方案能够安全高效地实现SDIO接口的测试。 | ||
| 搜索关键词： | sdio 接口 测试 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
暂无信息
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