[发明专利]继电器加速贮存退化实验参数测试分析系统及测试方法在审
| 申请号： | 202011320876.6 | 申请日： | 2020-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN112611963A | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 王召斌;李维燕;尚尚;陈康宁;李朕;刘百鑫;乔青云 | 申请（专利权）人： | 江苏科技大学 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327;G01R31/00;G01R27/20;G01M13/00 |
| 代理公司： | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人： | 杭行 |
| 地址： | 212003*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及属于测量及分析技术领域，具体地说，是一种继电器加速贮存退化实验参数测试分析系统及测试方法，适用于通用电磁继电器，系统包括：加速退化实验环境模拟实验箱、负载箱、继电器贮存退化参数测控箱、下位机、上位机和PC机。贮存退化参数测试系统具有测试加速贮存退化实验过程中继电器的动作电压、动作时间、释放电压、释放时间、弹跳时间、线圈电阻、接触电阻（或接触压降）的功能。方法是首先将继电器置于加速贮存退化实验环境模拟恒温箱中，下位机中设置加速贮存实验所需要的湿度和温度，上位机将采集的数据进行计算、贮存和分析，用于评估电磁继电器的贮存可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 继电器 加速 贮存 退化 实验 参数 测试 分析 系统 方法 | ||
【主权项】：
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