[发明专利]机床的误差测量方法以及机床在审
申请号: | 202011321592.9 | 申请日: | 2020-11-23 |
公开(公告)号: | CN112828682A | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
发明(设计)人: | 小岛拓也;松下哲也 | 申请(专利权)人: | 大隈株式会社 |
主分类号: | B23Q17/22 | 分类号: | B23Q17/22 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 邓毅;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供机床的误差测量方法以及机床,能够与目标的形状无关地根据测量结果自动检测干扰而得到准确的测量结果。执行如下步骤:误差值取得步骤(S1),将具有多个目标的主工件设置于工作台,使用安装于主轴箱的传感器来检测各目标的位置,由此分别取得与各目标的位置相关的测量值,使用所取得的各测量值和预先取得的与各目标的位置相关的校正值,分别取得与各目标的位置相关的误差值;干扰指标值计算步骤(S2),针对各目标,计算表示测量的干扰程度的至少一个干扰指标值;以及阈值判定步骤(S3),判定干扰指标值是否超过预先设定的阈值。 | ||
搜索关键词: | 机床 误差 测量方法 以及 | ||
【主权项】:
暂无信息
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