[发明专利]AMT剖面探测方法、装置和设备有效
| 申请号： | 202011334053.9 | 申请日： | 2020-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN112596108B | 公开（公告）日： | 2022-08-23 |
| 发明（设计）人： | 李永博;王书民;西永在 | 申请（专利权）人： | 中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所 |
| 主分类号： | G01V3/08 | 分类号： | G01V3/08 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 徐丽 |
| 地址： | 065000 河*** | 国省代码： | 河北;13 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种AMT剖面探测方法、装置和设备，涉及水下地质勘探技术领域，该方法包括通过电场信号采集装置移动式采集目标探测剖面的电道观测数据；该电场信号采集装置布设在目标水域的水上，该电道观测数据包括预设多个电道的电场观测数据，以及该电道对应电极的位置观测数据；通过磁场信号采集装置采集该目标探测剖面的磁场观测数据；根据该测点的电场数据和该磁场观测数据，处理得到该目标探测剖面的反演结果。本发明实施例的目的在于提供一种AMT剖面探测方法、装置和设备，以提供适合水域观测的、探测深度更深、探测效率更高、且分辨率较高的勘探技术。 | ||
| 搜索关键词： | amt 剖面 探测 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所，未经中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011334053.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
