[发明专利]一种芯片表面瑕疵的自动检测方法、系统及电子设备在审
| 申请号： | 202011347834.1 | 申请日： | 2020-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN112308854A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 曾祥进;郑安义;邓晨;米勇;宋彭彭 | 申请（专利权）人： | 武汉工程大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/12;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/194;G01N21/88;G01N21/95 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 徐琪琦 |
| 地址： | 430000 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片表面瑕疵的自动检测方法、系统及电子设备，包括对芯片图像进行光照补偿，得到第一芯片图像；对所述第一芯片图像进行高斯滤波处理，得到第二芯片图像；对所述第一芯片图像和所述第二芯片图像进行线性融合，得到第三芯片图像；利用最大熵分割方法对所述第三芯片图像进行处理，得到二值图像；根据所述二值图像判断芯片表面是否有瑕疵，得到检测结果。使得对芯片表面瑕疵的检测更加智能化，更加便利，可以加快工业生产的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 表面 瑕疵 自动检测 方法 系统 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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