[发明专利]一种硅光电倍增管定位测试平台基测试方法在审
| 申请号： | 202011351944.5 | 申请日： | 2020-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN112557859A | 公开（公告）日： | 2021-03-26 |
| 发明（设计）人： | 董宽 | 申请（专利权）人： | 西安工业大学 |
| 主分类号： | G01R31/25 | 分类号： | G01R31/25 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 710021 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种硅光电倍增管定位测试平台基测试方法，包括以下步骤：A：将硅光电倍增管放置于测试台上电路板上，电路板上设有用于决定硅光电倍增管位置的定位块，硅光电倍增管的导电端与电路板上的导电片紧密接触；B：通过高压电缆将高电压输入到硅光电倍增管电压加载电极，并且通过同轴电缆与硅光电倍增管的阳极引出端连接。本发明通过具备操作简单，利于对输入电压进行控制，利于采集光电倍增管输出的不同强度的脉冲信号，测试精准度高的优点，解决了现有的硅光电倍增管测试方法操作繁琐，不利于对输入电压进行控制，不利于采集光电倍增管输出的不同强度的脉冲信号，使得测试精准度低，不利于测试数据分析的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电倍增管 定位 测试 平台 方法 | ||
【主权项】：
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