[发明专利]回归测试方法、系统、设备及可读存储介质有效
| 申请号： | 202011358331.4 | 申请日： | 2020-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN112464596B | 公开（公告）日： | 2022-11-15 |
| 发明（设计）人： | 杨晶晶;王芳;沈旭;焦瑞;李冬梅 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/3308 | 分类号： | G06F30/3308;G06F115/02;G06F115/08 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 钟扬飞 |
| 地址： | 300392 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本申请提供一种回归测试方法、系统、设备及可读存储介质，该方法包括：配置回归测试环境参数，并根据待测试子系统对应的环境配置建立回归测试环境的数据库；根据所述待测试子系统的回归运行配置生成所述待测试子系统对应的各子环境的命令集合，调用各所述子环境的目标线程执行各所述子环境的命令集合中的命令。由于首先进行的回归测试环境参数的配置和数据库的建立是所有子系统测试时所共有的过程，因此实现该方式的脚本可被所有子系统复用，在出现SoC层面的回归测试环境修改需求，或者需要新增某项回归测试所支持的功能，则只需要在该实现回归测试环境参数配置和回归测试环境数据库建立的脚本中进行更新调整即可，降低了回归测试的工作量。 | ||
| 搜索关键词： | 回归 测试 方法 系统 设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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