[发明专利]测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202011358649.2 | 申请日： | 2020-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN112486816A | 公开（公告）日： | 2021-03-12 |
| 发明（设计）人： | 李松林 | 申请（专利权）人： | 北京知道未来信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F21/57 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 董艳芳 |
| 地址： | 100082 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种测试方法、装置、电子设备及存储介质中，该电子设备在预设测试工具生成的测试数据的基础上，对测试数据做进一步的变异，以提高测试数据的变异程度，将提高变异程度后的变异测试数据用于对目标待测系统进行测试。因此，通过上述方式，该变异测试数据的变异程度更高，继而能够提高发现漏洞的概率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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