[发明专利]一种探针及插座匹配方法有效
申请号: | 202011365971.8 | 申请日: | 2020-11-29 |
公开(公告)号: | CN112462107B | 公开(公告)日: | 2021-09-14 |
发明(设计)人: | 金永斌;贺涛;丁宁;朱伟 | 申请(专利权)人: | 法特迪精密科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067;G01R1/073;G01R31/69 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江苏省苏州市苏州工业园*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明一种探针及插座匹配方法属于半导体测试技术领域;该方法首先在探针下方的弯曲结构与均分架中绝缘柱的方向一致的情况下,将探针结构向插座结构方向插入,再使探针绕自身旋转,且弯曲结构指向导电层,此时向下移动均分架,使得探针下方的弯曲结构与导电层接触,此时进行探针的测试,然后向上移动均分架,使均分架中的绝缘柱与三角体基座上的绝缘板分离,并使探针绕自身旋转,使探针下方的弯曲结构与均分架中绝缘柱的方向一致,最后将探针结构从插座结构中拔出;本发明探针及插座匹配方法降低了探针与插座的对准难度,不容易损坏探针,实现了拆装过程可逆,有利于进行重复性测试,同时还能够解决大电流下探针之间放电而造成短路的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 探针 插座 匹配 方法 | ||
【主权项】:
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