[发明专利]芯片测试方法和计算芯片有效
| 申请号： | 202011372426.1 | 申请日： | 2020-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN112630630B | 公开（公告）日： | 2022-10-28 |
| 发明（设计）人： | 范志军;陈默;刘建波;杨作兴 | 申请（专利权）人： | 深圳比特微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 於菪珉 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市高*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开涉及一种芯片测试方法和计算芯片。所述芯片测试方法包括：针对待测的计算芯片的多个核中的每个核，根据与核对应的测试输入数据以及属性数据来配置该核的测试比较值；接收测试向量，其中，测试输入数据被包括在所述测试向量中；所述多个核中的每个核分别根据与该核对应的测试输入数据以及测试比较值，产生核测试结果；根据核测试结果生成所述计算芯片的芯片测试结果，并输出所述芯片测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 计算 | ||
【主权项】：
暂无信息
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