[发明专利]一种超导磁体性能检测设备及方法在审

专利信息
申请号: 202011387049.9 申请日: 2020-12-02
公开(公告)号: CN112197818A 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 戴少涛;李中煜;胡磊;洪智勇;马韬;常同旭;马化韬;李芳昕 申请(专利权)人: 江西联创光电超导应用有限公司;江西联创光电科技股份有限公司
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02
代理公司: 北京睿博行远知识产权代理有限公司 11297 代理人: 龚家骅
地址: 330096 江西省南昌市高新技术*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 发明涉及超导磁体设备技术领域,公开了一种超导磁体性能检测设备及方法,超导磁体性能检测设备包括:超导带材检测装置,用于检测超导带材的载流能力和强度能力,且超导带材检测装置包括弯曲装置和拉伸机;磁体检测装置,用于检测超导磁体的气隙中各位置磁场的强弱;真空特性检测装置,用于检测杜瓦容器的真空特性;超导磁体的热均匀性或导热性检测装置,用于检测超导磁体的热均匀性或超导磁体的导热性能;本发明通过磁体检测装置保证了本发明检测设备的适用性,可对不同结构的超导磁体的气隙空间的磁场进行检测,结构简单;本发明设备应用的超导磁体性能检测方法,程序化了检测过程,大大提高了检测效率,且保证了本发明装置的精确性。
搜索关键词: 一种 超导 磁体 性能 检测 设备 方法
【主权项】:
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