[发明专利]ZQ校准方法、装置、存储器芯片及存储介质有效
| 申请号： | 202011388455.7 | 申请日： | 2020-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN112489715B | 公开（公告）日： | 2023-01-24 |
| 发明（设计）人： | 王小光 | 申请（专利权）人： | 西安紫光国芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02;G11C29/50;G11C11/4063 |
| 代理公司： | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人： | 梁凯 |
| 地址： | 710075 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本说明书实施例公开一种ZQ校准方法、装置、存储器芯片及存储介质，所述ZQ校准方法包括：存储器包括多个接口电阻电路，接口电阻电路为离线驱动电路或终端匹配电路，在检测到ZQ校准请求时，对目标接口电阻电路的接口电阻进行ZQ校准，得到电阻校准配置信号，目标接口电阻电路为多个接口电阻电路中的一个或多个；获取目标接口电阻电路的电路使能信号以及电阻校准更新信号，并基于电路使能信号以及电阻校准更新信号，确定是否对接口电阻进行校准；若是，基于电阻校准配置信号，对接口电阻进行校准。上述方案，能够灵活的对各个接口电阻电路的接口电阻进行ZQ校准，提高了校准的灵活性。 | ||
| 搜索关键词： | zq 校准 方法 装置 存储器 芯片 存储 介质 | ||
【主权项】：
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