[发明专利]一种射频开关响应时间的测试方法及系统有效
| 申请号： | 202011389499.1 | 申请日： | 2020-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN112198428B | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 刘旭伟;莫松安;谷颜秋 | 申请（专利权）人： | 佛山市联动科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327;G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 邓易偲 |
| 地址： | 528000 广东省佛山市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种射频开关芯片响应时间的测试方法及系统，所述方法包括ATE射频信号源以预设的频率和功率输出发射信号给待测射频开关；数字信号处理器输出DUT控制信号给待测射频开关以控制待测射频开关的状态；ATE射频接收机接收待测射频开关输出的发射信号，对接收的信号进行处理，将处理后的接收信号发送给数字信号处理器；数字信号处理器对处理后的接收信号进行处理，输出测试结果；所述系统包括数字信号处理器、ATE射频信号源、ATE射频接收机和待测射频开关。本发明在信号接收机的基础上经过数字域处理，不受检波器的时间响应影响，不受示波器的分析带宽的影响，可处理信号带宽宽，提高ATE设备的测试速率，降低硬件复杂性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 开关 响应 时间 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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