[发明专利]一种微流控芯片膜类键合后气密性检测装置及方法在审

专利信息
申请号: 202011390529.0 申请日: 2020-12-02
公开(公告)号: CN112504564A 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 张仓明 申请(专利权)人: 苏州万贵源精密科技有限公司
主分类号: G01M3/02 分类号: G01M3/02;B65G47/90
代理公司: 广东有知猫知识产权代理有限公司 44681 代理人: 陈长益
地址: 215000 江苏省苏州市吴江经*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及气密性检测技术领域,且公开了一种微流控芯片膜类键合后气密性检测装置及方法,上料吸盘设于上料气缸侧面,上料气缸与上料吸盘活动连接,且上料气缸与无杆气缸活动连接,检测组件设于无杆气缸正面,检测组件与无杆气缸固定连接,且检测组件与上料吸盘活动连接,所述下料组件设于检测组件正面,下料组件与检测组件活动连接,该申请,通过对此装置增设了驱动装置、压头与检测平台,使此装置可以不需要通过人工进行检测,减低了人工所造成的误差,有效的提升了检测良率,通过对此装置增设了上料吸盘与无杆气缸,使此装置自动进行上下料,解放了操作人员的双手,在高强度工作下,此装置依旧可以有规律的上下料,有效的提升了工作效率。
搜索关键词: 一种 微流控 芯片 膜类键合后 气密性 检测 装置 方法
【主权项】:
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