[发明专利]一种高导热率等温体控温辐照装置在审
申请号: | 202011391836.0 | 申请日: | 2020-12-02 |
公开(公告)号: | CN112393967A | 公开(公告)日: | 2021-02-23 |
发明(设计)人: | 王梓;郭斯茂;米向秒;王冠博;唐彬;钱达志;刘耀光;周韦;袁姝;张松宝 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 |
主分类号: | G01N1/44 | 分类号: | G01N1/44 |
代理公司: | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人: | 张晓林 |
地址: | 621999*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种高导率等温体控温辐照装置,该装置包括:辐照胶囊、垫块、等温体和惰性气体层。辐照胶囊为辐照装置的外层保护壳体,为各部件及待辐照样品提供支撑,等温体利用自身核辐照发热特性为待测样品提供温度补偿,使待测样品处于均匀、稳定的温度环境下,惰性气体层置于辐照胶囊壳体内表面与等温体外表面之间的间隙内,进行保温,等温体与辐照胶囊接触面之间设置垫块进行隔热。本发明公开的辐照装置为核电材料的辐照考核提供了一个均匀、稳定的辐照温度环境,结构简单、可靠、成本低,为进行可靠的核电材料辐照试验提供了支撑。 | ||
搜索关键词: | 一种 导热 等温 体控温 辐照 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院核物理与化学研究所,未经中国工程物理研究院核物理与化学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011391836.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。