[发明专利]芯片FT测试方法及系统在审
| 申请号： | 202011396206.2 | 申请日： | 2020-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN112666444A | 公开（公告）日： | 2021-04-16 |
| 发明（设计）人： | 郑忠华 | 申请（专利权）人： | 思瑞浦微电子科技（苏州）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 苏州三英知识产权代理有限公司 32412 | 代理人： | 周仁青 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市工业*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种芯片FT测试方法及系统，所述方法包括：S1、在测试管脚上输入测试信号，所述测试信号为包括第一脉冲数据和第二脉冲数据的脉冲信号，第一脉冲数据的宽度小于第二脉冲数据的宽度；S2、通过延时器对测试信号进行延时得到延时信号，所述延时信号的延时宽度大于第一脉冲数据的宽度且小于第二脉冲数据的宽度；S3、通过寄存器在延时信号的上升沿对测试信号进行采样，获取输出信号；S4、根据输出信号进入相应的测试态进行FT测试。本发明中的寄存器通过在延时信号的上升沿对测试信号进行采样，从而获取输出信号进入测试态，只需一个测试管脚即可实现，降低了芯片封装成本，简化了芯片封装工艺。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 ft 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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