[发明专利]高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置在审

专利信息
申请号: 202011396975.2 申请日: 2020-12-03
公开(公告)号: CN112326797A 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 陈钰玮;朱鑫涛;蒋海春;赵保解;朱玉棠 申请(专利权)人: 朱鑫涛
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/22
代理公司: 江苏圣典律师事务所 32237 代理人: 贺翔
地址: 225009 江苏省扬州市邗江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明属于金属材料应用技术领域,具体公开了高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置,由储料箱、一组竖支撑腿、进料口、出料、密封板、一组密封板通孔、横气缸安装板、反射组件和检测组件组成。本发明的高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置的有益效果在于:其设计结构合理,能对高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的原料(成品或半成品)进行高效、精准和稳定的检测作业,保证所制得的成品品质统一,降低生产成本和成品的报废率,实现节能、环保的加工作业生产要求,同时能进行适应性的多角度检测调整,进一步保证杂质数据信息采集的精准性。
搜索关键词: 高硅轻质化 共晶铝硅 合金 制备 超声波 杂质 检测 装置
【主权项】:
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