[发明专利]一种GPU深度测试精度的评估方法在审
申请号: | 202011397780.X | 申请日: | 2020-12-05 |
公开(公告)号: | CN112732496A | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 田泽;陈佳;姜丽云;吴晓成;李冲;刘莎 | 申请(专利权)人: | 西安翔腾微电子科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 西安匠成知识产权代理事务所(普通合伙) 61255 | 代理人: | 商宇科 |
地址: | 710054 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明属于计算机图形学技术领域,尤其涉及一种GPU深度测试精度的评估方法,该方法包括以下步骤:1)选取GPU平台;2)构造场景;3)记录分别在不同的GPU平台进行深度测试;并记录不同平台在大于、小于、等于三种模式下,不同精度的测试结果,记录不同GPU平台的深度测试小数精度;4)基于待评估模型进行深度测试并获取数据;5)深度测试的精度评估。针对各个商业显卡或者GPU平台对于深度精度不一致,本发明解决了GPU深度测试精度评估问题,从不同GPU的深度测试结果发现,测试模式不同,深度精度是不同的。本发明正确的实现了GPU深度测试精度评估方法,有效的协助了GPU设计人员根据需求选取合适的深度精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 gpu 深度 测试 精度 评估 方法 | ||
【主权项】:
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