[发明专利]一种高精度大视场波前测量方法、电子设备及介质有效
| 申请号： | 202011399452.3 | 申请日： | 2020-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN112504480B | 公开（公告）日： | 2021-12-17 |
| 发明（设计）人： | 丁浩林;易仕和 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G01J9/00 | 分类号： | G01J9/00 |
| 代理公司： | 长沙智嵘专利代理事务所(普通合伙) 43211 | 代理人： | 黄海波 |
| 地址： | 410073 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高精度大视场波前测量方法，包括步骤：分别在有/无光学畸变场的情况下获得的一对点阵图；在所述一对点阵图的查询区内设置M×N质询窗口阵列；进行互相关计算处理，计算查询区中心点坐标、发生偏折前后的质询窗口形心坐标；结合查询区中心点坐标、发生偏折前后的质询窗口形心坐标和掩膜板距成像靶面之间的距离L，计算相应质询窗口形心x和y方向的光线偏折角；根据惠更斯原理，获得波前传播方向信息；通过积分方法，利用获得的波前传播方向信息进行波前重构，获取光程OPL结果，完成波前测量工作。本发明利用普通汇聚镜头成像特点，在低成本情况下，实现大视场波前精确测量，无需要额外的大尺寸凹面镜或透镜，造价低廉。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 视场 测量方法 电子设备 介质 | ||
【主权项】：
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