[发明专利]碳化硅晶体生长方法及生长装置在审

专利信息
申请号: 202011405558.X 申请日: 2020-12-02
公开(公告)号: CN112663136A 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 马远;潘尧波 申请(专利权)人: 中电化合物半导体有限公司
主分类号: C30B23/00 分类号: C30B23/00;C30B29/36
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 佟婷婷
地址: 315336 浙江省宁波市杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供一种碳化硅晶体生长方法及生长装置,生长装置包括:长晶炉组件、气囊防护组件、操作台、升降机构以及设置在气囊主体上的操作孔组件,其中,气囊防护组件中形成密封操作腔室,操作台上可以放置需要更换的物料,并在操作腔室中进行物料更换等操作。本发明的碳化硅晶体生长方法及生长装置,可以解决碳化硅晶体生长过程中有害气体影响的问题,通过对生长装置进行设计,并基于工艺条件控制,基于气囊形成密封操作腔室,使得使长晶炉主体在开装炉过程中可以免除有害气体对炉膛、石墨保温与坩埚、原料等的污染,以降低长晶过程中排氮的难度,从而提升碳化硅晶体的质量与性能。
搜索关键词: 碳化硅 晶体生长 方法 生长 装置
【主权项】:
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