[发明专利]基于微振动干扰的光学载荷成像性能测量方法及系统在审
| 申请号： | 202011418872.1 | 申请日： | 2020-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN112629830A | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 周春华;叶子龙;贾奥男;茅建伟;申军烽 | 申请（专利权）人： | 上海卫星工程研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭国中 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于微振动干扰的光学载荷成像性能测量方法及系统，包括：将光学载荷通过转接工装固定在专用的微振动激励台上；将光路生成系统安装在高度可调节平台上；完成光路生成系统的调试，使其产生的光线可以垂直射入光学载荷内；完成光学载荷的自检，测量在无微振动干扰输入情况下，光学载荷的成像性能；通过微振动激励台给光学载荷提供微振动干扰，获取不同微振动干扰下光学载荷的成像性能。本发明适用范围更广，在轨环境模拟程度高，能准确地获取光学载荷在星上微振动干扰环境下的成像性能，为光学载荷的优化设计和评价选用提供有效依据。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 振动 干扰 光学 载荷 成像 性能 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
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