[发明专利]一种非接触平面粗糙度测量系统及方法在审
| 申请号： | 202011426749.4 | 申请日： | 2020-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN112556607A | 公开（公告）日： | 2021-03-26 |
| 发明（设计）人： | 吴桂林;王宏伟;黄钞;谢小辉;赵丹 | 申请（专利权）人： | 四川航天计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 何祖斌 |
| 地址： | 610000 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明属于表面粗糙度测量技术领域，具体涉及一种非接触平面粗糙度测量系统及方法。其技术方案为：一种非接触平面粗糙度测量系统，包括基座、二维运动轴系、运动控制器、光学测量传感器、光纤、光电信号处理器、计算机。一种非接触平面粗糙度测量方法，包括如下步骤：S1：将被测件置于基座上，二维运动轴系中竖直轴系向下移动；S2：光学测量传感器到达量程中点，停止竖直轴系运动；S3：水平轴系进行单向匀速运动，光学测量传感器进行工件表面粗糙度原始信息采集；S4：计算机通过处理光电信号返回的工件表面的粗糙度原始信息与水平轴系运动信息，得出工件表面粗糙度数值。本发明提供了一种根据光波长和位移变换原理进行非接触平面粗糙度测量系统及方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 接触 平面 粗糙 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
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