[发明专利]相位角校正值计算装置和计算相位角校正值的方法在审

专利信息
申请号: 202011439556.2 申请日: 2020-12-10
公开(公告)号: CN112945221A 公开(公告)日: 2021-06-11
发明(设计)人: V·赛流陈科;A·奥特;K·莱格 申请(专利权)人: 迈来芯科技有限公司
主分类号: G01C21/00 分类号: G01C21/00;G01C17/28
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 黄嵩泉;张鑫
地址: 比利时*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及相位角校正值计算装置和计算相位角校正值的方法。一种相位角误差计算装置(100),包括:光源(102),该光源(102)根据间接飞行时间(iToF)测量技术发射射线。该光子混合器单元(104)生成并存储与多个预定相位偏移值相对应的多个电输出信号。信号处理电路根据iToF测量技术处理电输出信号,以便从中计算参考向量和参考相位角。输出信号与以第一精度水平进行的测量相对应。该电路根据iToF测量技术处理输出信号的子集,并据此计算测量向量和测量相位角。输出信号的子集与以低于第一精度水平的第二精度水平进行的测量相对应。该电路使用参考相位角和测量相位角计算相位角校正值。
搜索关键词: 相位角 校正 计算 装置 方法
【主权项】:
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