[发明专利]一种太阳能硅片的检测系统及其检测方法在审
| 申请号： | 202011448377.5 | 申请日： | 2020-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN114609137A | 公开（公告）日： | 2022-06-10 |
| 发明（设计）人： | 凌步军;朱鹏程;袁明峰;赵有伟;冯高俊;滕宇;吕金鹏;冷志斌 | 申请（专利权）人： | 江苏亚威艾欧斯激光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/93;G01N21/95;G01N21/84;G01N21/01 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 朱艳 |
| 地址： | 225600 江苏省苏州市中国（江苏）自由贸易试验区苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种太阳能硅片的检测系统及其检测方法，包括上位机、定位装置及检测装置，所述上位机与所述定位装置通信连接，所述上位机与所述检测装置连通信接，所述检测装置位于所述定位装置的中心，本发明通过所述定位装置对待测太阳能硅片进行定位校准，同时，所述检测装置对待测太阳能硅片进行破损检测，这样既提高了定位精度，又具有破损检测功能，提高了检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 太阳能 硅片 检测 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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