[发明专利]一种用于X射线残余应力测试的样品夹具在审

专利信息
申请号: 202011452951.4 申请日: 2020-12-11
公开(公告)号: CN112720381A 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 魏新龙;班傲林;付二广;朱无言;吴多利;张超 申请(专利权)人: 扬州大学
主分类号: B25H1/10 分类号: B25H1/10;B25H1/18
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 唐代盛;张玲
地址: 225009*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明属于夹具领域,具体涉及一种用于X射线残余应力测试的样品夹具。包括基座,转轴和样品台;样品台通过两侧的转轴与基座连接,且通过转动转轴实现样品台与水平面夹角的可调;样品台中部设有矩形沉槽,矩形沉槽的一个侧面设有伸缩弹簧,与设有伸缩弹簧的侧面相对的侧面设有螺杆,通过螺杆和伸缩弹簧实现样品的夹持。本发明的X射线残余应力测试夹具可以对试样进行稳固且精确的X射线检测操作,测试夹具简单、操作灵活方便,可以最大程度地提高试样的夹持精度且减少对X射线检测造成的干扰。
搜索关键词: 一种 用于 射线 残余 应力 测试 样品 夹具
【主权项】:
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