[发明专利]辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法有效
| 申请号： | 202011459774.2 | 申请日： | 2020-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN112595696B | 公开（公告）日： | 2021-10-15 |
| 发明（设计）人： | 姚东;高贵龙;尹飞;闫欣;辛丽伟;何凯;汪韬;田进寿 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王杨洋 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及粘接界面状态的原位表征方法，具体涉及一种辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法。本发明的目的是解决现有方法中存采用射线探伤方法时，依赖辐射源等大型专用设备，服役现场的展开受到空间限制，使用便利性不足，采用超声探伤方法时，辐照条件下对人员防护要求高且难以满足长期使用的要求，采用结构动力学分析时，传感器及其粘贴用胶粘剂的辐射耐受性需专门研究的技术问题，提供一种辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法。该方法以涉及辐照条件的核电设备等为主要应用对象，通过粘接界面取样、典型状态的标定、服役现场非接触原位检测等步骤，实现了非接触、无人化、简单、安全可靠、及时的粘接界面状态表征。 | ||
| 搜索关键词： | 辐照 条件下 接界 状态 原位 表征 方法 | ||
【主权项】：
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