[发明专利]全自动老化测试上下料系统及方法有效
| 申请号： | 202011463750.4 | 申请日： | 2020-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN112520413B | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 何润;严海忠 | 申请（专利权）人： | 苏州乾鸣半导体设备有限公司 |
| 主分类号： | B65G47/91 | 分类号： | B65G47/91 |
| 代理公司： | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人： | 杨慧红 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种全自动老化测试上下料系统，包括机架，还包括芯片上下料机构，用于料盘与中转治具之间的芯片往返运送；中转治具，用于临时放置待测芯片和测试完成的芯片；芯片调整运送模组，用于调整芯片之间的间距，并将待测芯片由中转治具运送至中转站，以及将测试完成的芯片由中转站运送至中转治具；中转站，并且用于中转站与升降上下料平台之间老化板的运送；升降上下料平台，用于将装载有待测芯片的老化板运送至多层推车，或从多层推车将装载有测试完成的芯片的老化板运送至中转站；多层推车，在地面移动，用于中转站与老化测试机之间老化板的运送。节省人工，上下料同时进行，整个过程紧密衔接，前后无需等待，上下料效率提升巨大。 | ||
| 搜索关键词： | 全自动 老化 测试 上下 系统 方法 | ||
【主权项】：
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