[发明专利]用于芯片的自适应电压与频率调节的测试电路的实现方法有效

专利信息
申请号: 202011478922.5 申请日: 2020-12-15
公开(公告)号: CN112859982B 公开(公告)日: 2022-06-21
发明(设计)人: 耿辰;王毓千;晋大师 申请(专利权)人: 成都海光微电子技术有限公司
主分类号: G05F1/56 分类号: G05F1/56
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 彭久云
地址: 610216 四川省成都市中国(四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种用于芯片的自适应电压与频率调节的测试电路的实现方法,测试电路包括至少一个金属绕线路径,至少一个金属绕线路径包括第一金属绕线路径,该实现方法包括:在芯片的测试区域中创建第一金属绕线路径包括的第一中心单元;在第一中心单元的周围创建第一金属绕线路径包括的多个第一中间单元;从第一中心单元出发经过多个第一中间单元后再回到第一中心单元,以围绕第一中心单元完成对第一金属绕线路径的绕线操作,从而创建用于连接第一金属绕线路径包括的各个单元的多条金属走线;第一金属绕线路径经过芯片的多个金属层。本公开的实施例提供的实现方法可以提高在芯片中实现测试电路的效率。
搜索关键词: 用于 芯片 自适应 电压 频率 调节 测试 电路 实现 方法
【主权项】:
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