[发明专利]一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202011481315.4 | 申请日： | 2020-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN112612659B | 公开（公告）日： | 2022-10-14 |
| 发明（设计）人： | 杨国文;何骁伟;吴义桂 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/263 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例公开一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及集成电路技术领域，为能够降低芯片测试成本而发明。所述芯片测试方法包括：从被测芯片中的预设存储模块，获取当前测试站别前的测试站别的测试信息；其中，所述预设存储模块为非易失性可重复读写擦除存储模块；根据所述当前测试站别前的测试站别的测试信息，确定在当前测试站别对所述被测芯片进行的操作。本申请适用于测试芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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